经济型高低温冷热冲击试验箱应用设计

经济型高低温冷热冲击试验箱应用设计

产品简介：

冷热冲击和高低温循环箱  可靠性测试可程式蓄冷热冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试材料结构在瞬间下经*温及极低温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。

产品技术参数：

• 内箱尺寸（W×H×D）cm:	A:35 x 35 x 40 , B:50 x 40 x 40 ,C:60 x 40 x 45 , D:60 x 50 x 50 , E:70 x 60 x 60 ,F:80 x 80 x 80 ,G:100 x 100 x 100
  结构:	预冷箱、预热箱、 测试箱、固定类型的物体测试,可选择2箱或3箱
  气门装置 :	强制的空气装置气门
  内外箱材料 :	SUS #304 不锈钢
  测试栅盘: :	不锈钢网架
  冷冻系统 :	复叠式制冷
  冷却方式 :	水冷式
  工作环境温度 :	10℃ ~ 35℃
  预热温度 :	+ 60℃ ~ + 200℃
  预冷温度 :	- 10℃ ~ - 70℃
  高温冲击温度 :	+ 60℃ ~ + 150℃
  低温冲击温度 :	-10℃ ~ - 65℃
  温度分布均匀度 :	±2.00℃ 以内
  仿真负载(KG) :	A:2.5,  B:2.5,  C:5,  D:5,  E:5,  F:5,  G:10
  高温冲击3箱 :	Rt℃~ +150℃ / 5 MIN
  低温冲击3箱 :	RT℃~ -65℃ / 5 MIN
  高温冲击2箱 :	-40℃~ +150℃ / 5 MIN
  低温冲击2箱 :	+150℃~ --65℃ / 5 MIN
  预热时间(分钟) :	A:25min,  B:30min,  C:45min,  D:40min,  E:50min,  F:40min,  G:50min
  预冷时间(分钟) :	A:60min,  B:75min,  C:80min,  D:85min,  E:85min,  F:90min,  G:100min
  温度感传器 :	T *4
  控制器 :	OYO-8226
  设定范围 :	温度: -100.00+200.00℃ / TIME : OH00M ~ 99H 59M / CYCLE : 0 CYCLE ~9999 CYCLE
  分辨率 :	0.01℃
  输出型式 :	PID + SSR 控制模式
  PID + SSR 控制模式 :	（RS-232 )远程监控管理系统 / Ln2液态氮快速降温控制装置
  电源 :	AC 3ψ380V , 50Hz

注：产品具体参数细节及优惠价格可详谈；另可根据客户需求进行定制